這篇白皮書解釋在面對90納米和65納米技術標準時,為什么存在DFM/DFY的問題;當未來發展到更小的技術標準時,為什么這些問題將變得更加嚴重,以及為什么傳承下來的設計工具和流程無法經過簡單的裝配來解決這些問題。同時本文還探討了當前超深亞微米技術對真正DFM/DFY流程的核心需求。