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低功率納米技術及其它靈敏器件的交流與直流測量方法對比
Researchers today must measure material and device characteristics that involve very small currents and voltages. Examples include the measurement of resistance and I-V characteristics of nanowires, nanotubes, semiconductors, metals, superconductors, and
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- 發布公司：吉時利
- 文件大小：258.05 Kb
- 更新時間：2010-09-27 16:31:43
- 官網：http://www.keithley.com.cn
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