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SMU-Per-Pin系統(tǒng)架構支持快速、經(jīng)濟有效的特性分析變動(英文)
As the knowledge of high density test structure design has grown quickly in recent years, the ability to implement fast variation characterization techniques is often limited by the number of Source-Measure Units (SMUs) available in conventional parametri
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- 發(fā)布公司：吉時利
- 文件大小：1378.53 Kb
- 更新時間：2010-09-27 16:25:02
- 官網(wǎng)：www.keithley.com
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