您現在的位置>>白皮書 > 測試測量 > 縮短HCI測試時間的白皮書（英文）
縮短HCI測試時間的白皮書（英文）
Many reliability “wearout” tests monitor a performance parameter that degrades steadily with the log of the time on stress. In most cases, a time to 10% degradation is measured. The time to 10% degradation is considered a benchmark because many devices ar
下載說明
- 發布公司：
- 文件大小：75.71 Kb
- 更新時間：2010-01-18 10:05:56
- 官網：
-
EEWorld感謝您的關注!
-
?
- 相關下載
最新白皮書
熱門廠商
提供高準確度的用于產品測試、過程監控、等解決方案
提供高準確度的用于產品測試、過程監控、等解決方案