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用于高靈敏度器件的交流與直流測量方法
如今，研究人員必須測量極低電流和電壓下的材料和器件特性，例如測量納米線、納米管、半導(dǎo)體、金屬、超導(dǎo)體和絕緣材料的電阻和I-V特性。
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- 發(fā)布公司：Keithley
- 文件大小：983.4 Kb
- 更新時間：2010-01-13 15:31:32
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