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用于半導體可靠性的短脈沖強制性測試
用于半導體可靠性的短脈沖強制性測試
開發IC讓它能工作是一回事;而讓它耐用就是另一回事了。隨著新技術出現新的可靠性問題,后者變得越來越難。在封裝之前,在晶圓上進行脈沖測試會有幫助。
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發布公司:keithley
文件大小:380.56 Kb
更新時間:2009-12-29 15:16:17
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