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半導體C-V測量基礎
半導體C-V測量基礎
C-V測量為人們提供了有關器件和材料特征的大量信息。包括:通用測試、半導體電容的物理特性、基本測試配置、成功C-V測量的挑戰......
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更新時間:2009-12-29 14:53:22
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