原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）采用非接觸式探針技術進行高分辨率表面形貌和物理性質測量，是一種廣泛應用于各領域的顯微鏡，能夠在原子級別對樣品進行掃描和成像，具備高成像精度、分辨率以及在不同環境下工作的優點。

1. 工作原理： 原子力顯微鏡通過非接觸式探頭掃描樣品表面，根據探頭與樣品之間相互作用力的變化來確定樣品的形貌和性質。探頭懸掛在彈簧上，隨著樣品表面形貌的變化而偏轉，反映出樣品表面的形貌。通過計算探頭與樣品之間的作用力，獲得高分辨率的三維圖像。

2. 組成結構： 原子力顯微鏡主要由探針（測量樣品表面形貌和物理性質的元件）、掃描控制器（控制掃描儀的運動并收集反饋信號）、成像設備（將掃描信號轉換成圖像）和樣品臺（支持樣品并調節其位置）等組成。

3. 優缺點： 原子力顯微鏡具有高分辨率、適應不同環境、同時測量多種性質等優點。然而，它也容易受到外界干擾，需要精確校準，并且成像速度相對較慢。

4. 應用： 原子力顯微鏡廣泛應用于材料科學、納米技術、生物醫學等領域。具體應用包括表面形貌和結構分析、納米制造和加工（如石墨烯、碳納米管制造）、生物醫學應用（對生物大分子進行高分辨率成像等）。

綜上所述，原子力顯微鏡以其高分辨率、多種性質測量、適應不同環境等特點，成為材料科學、納米技術、生物醫學等領域不可或缺的工具。隨著技術的不斷發展，原子力顯微鏡將在更廣泛的領域中得到應用。