如下圖所示,GD32F303系列MCU在不同的ADC位寬情況下均具有對應的最高采樣率,那這個最高采樣率還可以提高嗎?
答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持雙ADC內核,分別為ADC0和ADC1,且雙ADC可以支持同步模式,同步模式可以支持常規并行模式、常規快速交叉模式和常規慢速交叉模式,其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采樣同一個通道,同步等效為提高ADC采樣率。
下面以快速交叉模式為例來進行介紹:
以下為常規快速交叉模式工作示意圖,常規觸發后,ADC1立即啟動采樣,之后ADC0在7個ADC時鐘周期后自動啟動。
ADC0和ADC1采樣轉換的數據在快速交叉模式下會被自動放到32位的ADC0數據寄存器里,如下圖所示,高16位存放是ADC1的采樣數據,低16位存放的是ADC0的采樣數據。這樣當ADC1和ADC0采樣完成后,使用ADC0對應的DMA通道搬運32位ADC0數據寄存器,就可以把ADC0和ADC1的采樣數據進行搬運。
在快速交叉模式下,需要兩個ADC的采樣周期要小于7個ADC CLK,進而可以等效提高雙倍ADC采樣率。
另外慢速交叉模式,就是將兩個ADC之間的啟動間隔改成14個ADC CLK,其他工作原理一致。
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