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尼得科精密檢測科技參展2025泰國亞洲電子智能制造展覽會

發(fā)布者:EE小廣播最新更新時(shí)間:2025-02-27 來源: EEWORLD關(guān)鍵字:尼得科  參展  展覽會 手機(jī)看文章 掃描二維碼
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尼得科精密檢測科技株式會社(以下簡稱“本公司”)將參加2025年3月6日(周四)至3月8日(周六)在曼谷國際貿(mào)易展覽中心(BITEC)舉辦的“2025泰國亞洲電子智能制造展覽會(Intelligent Asia Thailand 2025)”。

 

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本次展覽會將主要展出針對AI服務(wù)器日益大型化和復(fù)雜化而開發(fā)設(shè)計(jì)的、用于高端電路板的最新電氣檢測設(shè)備“GATS-8360”,以及近年來備受關(guān)注的用于功率半導(dǎo)體的檢測裝置“NATS系列”。


此外,我們還將在展會上介紹一款兼具高速高性能和性價(jià)比的、用于HDI基板的新型電氣檢測裝置“STAR REC-M1”。


今后,本公司將繼續(xù)以行業(yè)高水平的測量和檢測技術(shù)為全球的制造業(yè)做貢獻(xiàn)。

 

〈參展概要〉


  • 會  期:2025年3月6日(周四)~3月8日(周六)

  • 會  場:曼谷國際貿(mào)易展覽中心(BITEC)

  • 展  位:PCB Area B414

  • 官  網(wǎng):https://intelligentasia-thailand.chanchao.com.tw/en

 

〈參展產(chǎn)品〉


  • AI服務(wù)器大型基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS-8360”

  • 用于HDI/PCB基板的導(dǎo)通/短路檢測裝置“STAR REC系列”

  • 用于車載基板的導(dǎo)通/短路檢測裝置“STAR REC-V5Ⅲ”

  • 用于IGBT/SiC模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動態(tài)特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

  • 用于功率半導(dǎo)體模塊的動態(tài)可靠性測試的試驗(yàn)裝置“NATS-8000系列”

  • 適用于高密度基板的光學(xué)2D/3D檢測裝置“RSH系列”


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