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摘要:該應用筆記包含了一些基本的操作程序,可幫助工程師利用Advantest? R3132頻譜分析儀(或類似頻譜分析儀)完成對回波損耗的測量,并提供了在實驗室測量回波損耗的相關知識。其中一些特定的按鍵操作只適用于R3132頻譜分析儀,但是一些基本的操作程序對所有的頻譜分析儀都適用。該應用筆記并不是一個的全面的使用指南,讀者還需要掌握一些頻譜分析儀的基本操作知識。 

回波損耗要求

E3、ITU G.703和ETS 300-686規定的輸入回波損耗如表1所列,輸出回波損耗要求如表2所列。

表1. 輸入端最小回波損耗

Frequency Range (kHz)Return Loss (dB)
860 to 172012
1720 to 34,36818
34,368 to 51,55014


表2. 輸出端最小回波損耗

Frequency Range (kHz)Return Loss (dB)
860 to 17206
1720 to 51,5508

Dallas Semiconductor線路接口單元(LIU)的回波損耗測量

ETS 300-686規范中的A.2.5和A.2.6細則給出了測量E3回波損耗的測試設備和程序。圖1所示測試裝置用于測量輸入回波損耗,并驗證是否符合表1要求。輸出回波損耗的測量裝置與之相似,只將原本連接到接收機輸入端的測量裝置連接到發射機的輸出端即可。

圖1. 回波損耗測量裝置
圖1. 回波損耗測量裝置

圖1所示Dallas Semiconductor器件測量裝置中,回波損耗測試橋路采用的是Wide Band Engineering, Inc.的A57TLSTD。兩個50Ω/75Ω阻抗轉換器(Wide Band Engineering的A65L)用來連接75Ω橋路與50Ω信號發生器、50Ω頻譜分析儀端口。圖1中橋路右側的75Ω精密電阻是回波損耗測試橋路的一個部件。Advantest R3132頻譜分析儀在圖1中同時作為信號發生器和頻譜分析儀。

在圖1所示的裝置中,信號發生器的頻率范圍為860kHz至51,550kHz,提供峰值為1V的正弦信號

若要在測量回波損耗之前檢查測試裝置,電橋的NTP接口(圖1左側接口)應連接至75Ω (±0.25Ω)測試負載。在圖1所示裝置中,這個精密電阻是Wide Band Engineering回波損耗測試橋路的一個元件。用該電阻作為測試負載時,回波損耗應比表1所要求的回波損耗高20dB。

頻譜分析儀的主要功能

測量回波損耗所需要的主要功能為以下六項:

  1. 頻率設置

  2. 基準電平設置

  3. 帶寬、掃描時間、觸發控制設置

  4. 跟蹤發生器設置

  5. 跟蹤控制設置

  6. 利用標記功能測量回波損耗(以dB為單位)

頻率設置

下述步驟用來設定頻譜分析儀的頻率范圍:

  1. 按下前面板的FREQ鍵。

  2. 按下軟鍵#2 (Start),用數字小鍵盤配合單位鍵(GHz、MHz、kHz或Hz)輸入起始頻率。由表1和表2可知,輸入端口和輸出端口的起始頻率均為860kHz,如圖2所示。

    圖2. 設置起始頻率為860kHz
    圖2. 設置起始頻率為860kHz

  3. 按下軟鍵#3 (Stop),用數字小鍵盤配合單位鍵(GHz、MHz、kHz或Hz)輸入截止頻率。由表1和表2可知,輸入端口和輸出端口的截止頻率均為51.55MHz,如圖3所示。

    圖3. 設置截止頻率為51.55MHz
    圖3. 設置截止頻率為1.55MHz

  4. 其余設置可以采用缺省值。

基準電平設置

下述步驟用來設定頻譜分析儀的基準電平:

  1. 按下前面板的LEVEL鍵。

  2. 按下軟鍵#2 (ATT),選擇AUTO。

  3. 按下軟鍵#3 (dB/div),選擇dB/div顯示方式。選擇軟鍵#1 (10dB/div)作為每刻度對應的分貝值,如圖4所示。然后按RETURN鍵。

    圖4. 選擇10dB/div作為每刻度對應的分貝值
    圖4. 選擇10dB/div作為每刻度對應的分貝值

  4. 按下軟鍵#5 (Units)并選擇軟鍵#1 (dBm)作為期望的顯示單位,如圖5所示,然后按RETURN鍵。

    圖5. 選擇dBm作為顯示單位
    圖5. 選擇dBm作為顯示單位

  5. 按下軟鍵#1 (Ref Level),用數字小鍵盤輸入期望的基準電平。也可用旋鈕選擇所期望的電平。我們使用0.1dBm來測量回波損耗。

  6. 其余設置可以采用缺省值。

帶寬、掃描時間和觸發控制設置

下述步驟用來設定頻譜分析儀的帶寬、掃描時間和觸發控制:

  1. 按下CONTROL板的BW鍵。

  2. 按下軟鍵#7 (Auto All),自動設置分辨率和視頻帶寬。

  3. 按下CONTROL板的SWEEP鍵。

  4. 按下軟鍵#2 (Auto All),自動設置掃描時間。

  5. 按下軟鍵#6 (Gated Sweep),選擇OFF。

  6. 按下軟鍵#7 (Ext Gate In),選擇OFF。

  7. 按下CONTROL板的TRIG鍵。

  8. 按下軟鍵#1 (Trig Source),選擇Free Run并單擊RETURN鍵。

  9. 其余設置可以采用缺省值。

跟蹤發生器設置

下述步驟用來設定頻譜分析儀的跟蹤發生器輸出:

  1. 按下前面板的TG鍵。

  2. 按下軟鍵#1 (TG Level),用數字小鍵盤配合單位鍵(+dBm或-dBm)輸入所要求的輸出信號電平值。可使用旋鈕調整輸出信號電平。我們使用0.0dBm來測量回波損耗。

  3. 按下軟鍵#4 (Ref Line,設置基準電平對輸入信號進行歸一化處理。用數字小鍵盤配合單位鍵(+dBm或-dBm)輸入所要求的基準電平。可使用旋鈕調整輸出信號電平,我們使用-20dBm來測量回波損耗。

  4. 按下軟鍵#3 (Norm Corr),選擇OFF。禁止歸一化處理,可在下一步驟中保存一組新的校準數據。

  5. 按下軟鍵#2 (Execute Normalize),保存校準數據并將輸入信號歸一化到基準電平。

  6. 其余設置可以采用缺省值。

跟蹤控制設置

下述步驟用來設定頻譜分析儀的跟蹤振蕩器

  1. 按下CONTROL板的TRACE鍵。

  2. 按下軟鍵#1 (Write A),顯示輸入信號軌跡。

  3. 按下軟鍵#5 (Detector),選擇期望的信號軌跡檢測方式(Normal、Posi、Negi或Sample)。Normal同時顯示正峰值和負峰值;Posi只顯示正峰值;Negi只顯示負峰值;Sample顯示當前的信號軌跡。為了測量回波損耗,選擇軟鍵#4 (Sample),如圖6所示,然后單擊RETURN鍵。 

    圖6. 選擇Sample方式顯示當前信號軌跡
    圖6. 選擇Sample方式顯示當前信號軌跡

  4. 按下軟鍵#7 (1/2,more)顯示下一個軟鍵的設置。選擇軟鍵#1 (AVG A),保持它在ON模式,按下RETURN鍵。再次按軟鍵#7 (2/2,more)返回到軟鍵的初始設置。

  5. 其余設置可以采用缺省值。

測量回波損耗(以dBm為單位)

  1. 按下MARKER板上的MEAS鍵。

  2. 按下圖7所示軟鍵#1 (Noise/Hz)。 

    圖7. 為回波損耗測量選擇Noise/Hz
    圖7. 為回波損耗測量選擇Noise/Hz

  3. 按下軟鍵#1 (dBm/Hz)。

    圖8. 為回波損耗測量選擇dBm/Hz
    圖8. 為回波損耗測量選擇dBm/Hz

  4. 按下軟鍵#7 (Noise/Hz OFF),如圖8所示。

  5. 將75Ω負載接入測試橋路,測量其dB值。

    圖9. 帶有75Ω負載的回波損耗
    圖9. 帶有75Ω負載的回波損耗

  6. 按下MARKER板的MKR鍵,然后利用旋鈕選擇要測量的頻率值,測量該頻率處的回波損耗,如圖9所示。

  7. 連接被測器件(DUT)和測試橋路,利用旋鈕選擇要測量的頻率值,測量該頻率處的回波損耗。我們將測量860kHz、1.720MHz、34.3680MHz和51.55MHz處的回波損耗。使用旋鈕選擇這些頻率的某一個值。用戶也可以選擇自己感興趣的頻率并測量回波損耗。

  8. 測量被測器件(DUT)在860kHz處的回波損耗,如圖10所示。

    圖10. 被測器件(DUT)在860kHz處的回波損耗
    圖10. 被測器件(DUT)在860kHz處的回波損耗

  9. 測量被測器件(DUT)在1.72MHz處的回波損耗,如圖11所示。

    圖11. 被測器件(DUT)在1.72MHz處的回波損耗
    圖11. 被測器件(DUT)在1.72MHz處的回波損耗

  10. 測量被測器件(DUT)在34.368MHz處的回波損耗,如圖12所示。 

    圖12. 被測器件(DUT)在34.37MHz處的回波損耗
    圖12. 被測器件(DUT)在34.37MHz處的回波損耗 

  11. 測量被測器件(DUT)在51.35MHz處的回波損耗,如圖13所示。

    圖13. 被測器件(DUT)在51.35MHz處的回波損耗
    圖13. 被測器件(DUT)在51.35MHz處的回波損耗

關鍵字:Advantest  R3132  頻譜分析儀  回波損耗 引用地址:利用Advantest R3132頻譜分析儀測量回波損耗

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